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    EMC測(cè)試內(nèi)容及周期
    作者: 來(lái)源: 流量:159 發(fā)布時(shí)間:2024/11/1 9:55:54


    EMC(電磁兼容性)測(cè)試在電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)中扮演著不可或缺的角色,其目的在于評(píng)估設(shè)備在電磁環(huán)境中的干擾(EMI)和抗干擾(EMS)能力,以確保產(chǎn)品在實(shí)際使用中的穩(wěn)定性和可靠性。


    EMC測(cè)試的內(nèi)容


    EMC測(cè)試主要包括兩大類:電磁干擾(EMI)測(cè)試和電磁抗干擾(EMS)測(cè)試。


    EMI測(cè)試:


    輻射發(fā)射測(cè)試(RE):通過(guò)測(cè)量設(shè)備通過(guò)空間輻射的電磁能量,來(lái)評(píng)估設(shè)備是否會(huì)產(chǎn)生過(guò)量的電磁輻射,從而干擾其他設(shè)備的正常工作。


    傳導(dǎo)騷擾測(cè)試(CE):檢測(cè)設(shè)備沿電源線、信號(hào)線等導(dǎo)體傳播的電磁騷擾,確保設(shè)備在傳導(dǎo)路徑上的電磁能量不超過(guò)規(guī)定的限值。


    諧波電流測(cè)試:檢查設(shè)備產(chǎn)生的諧波電流是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),以避免對(duì)電網(wǎng)造成污染和不良影響。


    電壓波動(dòng)與閃爍測(cè)試:評(píng)估設(shè)備在運(yùn)行時(shí)引起的電壓波動(dòng)和閃爍現(xiàn)象,確保其對(duì)電網(wǎng)和其他設(shè)備的影響在可接受范圍內(nèi)。


    EMS測(cè)試:


    靜電放電測(cè)試(ESD):模擬人體靜電放電對(duì)設(shè)備的影響,以評(píng)估設(shè)備的抗靜電能力。


    射頻輻射抗干擾度(RS):檢驗(yàn)設(shè)備在射頻輻射環(huán)境下的正常工作能力,確保設(shè)備不會(huì)因射頻干擾而失效。


    射頻傳導(dǎo)抗干擾度(CS):通過(guò)測(cè)試設(shè)備對(duì)通過(guò)導(dǎo)體傳導(dǎo)的射頻干擾的抵抗能力,來(lái)評(píng)估設(shè)備的電磁兼容性。


    電快速瞬變脈沖群測(cè)試(EFT/Burst):考察設(shè)備對(duì)快速瞬變脈沖群干擾的抵御能力,確保設(shè)備在惡劣電磁環(huán)境下仍能正常工作。


    雷擊浪涌測(cè)試(SURGE):模擬雷擊或電網(wǎng)中的浪涌現(xiàn)象對(duì)設(shè)備的影響,以評(píng)估設(shè)備的抗雷擊和抗浪涌能力。


    電壓跌落及短時(shí)中斷測(cè)試(DIPS):評(píng)估設(shè)備在供電電壓發(fā)生跌落和短時(shí)中斷時(shí)的性能表現(xiàn),確保設(shè)備能夠穩(wěn)定地應(yīng)對(duì)電網(wǎng)故障。


    此外,EMC測(cè)試還可能涉及工頻磁場(chǎng)測(cè)試(PFM)等其他項(xiàng)目,以全面評(píng)估設(shè)備的電磁兼容性。


    EMC測(cè)試的周期


    EMC測(cè)試的周期受多種因素影響,包括但不限于設(shè)備的復(fù)雜性、測(cè)試要求、實(shí)驗(yàn)室排期以及是否需要整改等。


    設(shè)備復(fù)雜性:功能簡(jiǎn)單、單一模塊的設(shè)備測(cè)試時(shí)間相對(duì)較短;而擁有多個(gè)通信模塊、復(fù)雜功能或多個(gè)頻段的設(shè)備需要更多的測(cè)試項(xiàng)目,因此測(cè)試時(shí)間會(huì)更長(zhǎng)。


    測(cè)試要求:不同的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和方法可能導(dǎo)致測(cè)試周期的差異。一些標(biāo)準(zhǔn)可能要求更嚴(yán)格的測(cè)試條件和更詳細(xì)的測(cè)試數(shù)據(jù),從而增加測(cè)試時(shí)間。


    實(shí)驗(yàn)室排期:如果測(cè)試項(xiàng)目熱門或?qū)嶒?yàn)室資源緊張,可能需要提前預(yù)約并等待測(cè)試時(shí)間。這也會(huì)影響EMC測(cè)試的周期。


    整改與重新測(cè)試:如果設(shè)備在初次測(cè)試中未通過(guò),整改往往是耗時(shí)的重要環(huán)節(jié)。整改可能涉及重新設(shè)計(jì)電路、改變屏蔽結(jié)構(gòu)或增加濾波器等。完成整改后,還需要進(jìn)行重新測(cè)試以驗(yàn)證改進(jìn)效果。這將進(jìn)一步延長(zhǎng)EMC測(cè)試的周期。


    因此,對(duì)于簡(jiǎn)單設(shè)備(如小型消費(fèi)電子),包括EMI和EMS測(cè)試的完整周期可能在5-7個(gè)工作日內(nèi)完成(前提是設(shè)備在初次測(cè)試中合規(guī))。然而,對(duì)于復(fù)雜設(shè)備或具有特殊要求的產(chǎn)品,測(cè)試周期可能需要更長(zhǎng),甚至可能達(dá)到數(shù)周或更長(zhǎng)時(shí)間。


    EMC測(cè)試是電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)中確保產(chǎn)品質(zhì)量和電磁兼容性的重要環(huán)節(jié)。了解并合理安排測(cè)試內(nèi)容和周期,有助于確保產(chǎn)品能夠順利通過(guò)測(cè)試并滿足市場(chǎng)需求。

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